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Descriptor en español: Microscopía de Fuerza Atómica
Descriptor microscopía de fuerza atómica
Término(s) alternativo(s) microscopía de fuerza
microscopía de fuerza de barrido
Nota de alcance: Tipo de microscopía de sonda de barrido en la que la sonda se desplaza sistemáticamente sobre la superficie de la muestra barrida con un patrón matricial. La posición vertical se registra a medida que un muelle unido a la sonda, sube y baja en respuesta a los picos y valles de la superficie. Estas deflexiones producen un mapa topográfico de la muestra.
Descriptor en inglés: Microscopy, Atomic Force
Descriptor en portugués: Microscopia de Força Atômica
Descriptor en francés: Microscopie à force atomique
Término(s) alternativo(s): Microscopía de Fuerza
Microscopía de Fuerza de Barrido
Microscopía de Fuerza de Rastreo
Microscopía de Sonda de Rastreo
Código(s) jeráquico(s): E01.370.350.515.666.400
E05.595.666.400
Identificador Único RDF: https://id.nlm.nih.gov/mesh/D018625
Nota de alcance: Tipo de microscopía de sonda de barrido en la que la sonda se monta sistemáticamente sobre la superficie de una muestra que está siendo barrida con un patrón en forma de red. La posición vertical se registra a medida que un muelle, que está unido a la sonda, se eleva y cae en respuesta a los picos y valles que están sobre la superficie. Estas deflexiones producen un mapa topográfico de la muestra.
Calificadores permitidos: CL clasificación
EC economía
ES ética
HI historia
IS instrumentación
MT métodos
SN estadística & datos numéricos
ST normas
TD tendencias
VE veterinaria
Vea también los descriptores: Microscopía de Túnel de Rastreo MeSH
Identificador de DeCS: 32147
ID del Descriptor: D018625
Clasificación de la NLM: QH 212.A78
Documentos indizados en la Biblioteca Virtual de Salud (BVS): Haga clic aquí para acceder a los documentos de la BVS
Fecha de establecimiento: 01/01/1995
Fecha de entrada: 16/04/1994
Fecha de revisión: 07/07/2004
Microscopía de Fuerza Atómica - Concepto preferido
UI del concepto M0027912
Nota de alcance Tipo de microscopía de sonda de barrido en la que la sonda se monta sistemáticamente sobre la superficie de una muestra que está siendo barrida con un patrón en forma de red. La posición vertical se registra a medida que un muelle, que está unido a la sonda, se eleva y cae en respuesta a los picos y valles que están sobre la superficie. Estas deflexiones producen un mapa topográfico de la muestra.
Término preferido Microscopía de Fuerza Atómica
Término(s) alternativo(s) Microscopía de Fuerza
Microscopía de Fuerza de Barrido
Microscopía de Fuerza de Rastreo
Microscopía de Sonda de Rastreo



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