| Descriptor en español: |
Espectrometría de Masa de Ion Secundario
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| Descriptor en inglés: | Spectrometry, Mass, Secondary Ion | ||||||
| Descriptor en portugués: | Espectrometria de Massa de Íon Secundário | ||||||
| Descriptor en francés: | Spectrométrie de masse d'ions secondaires | ||||||
| Término(s) alternativo(s): |
Espectroscopía de Masa de Ion Secundario Microscopía por EMIS Microscopía por Espectrometría de Masa de Ion Secundario |
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| Código(s) jeráquico(s): |
E05.196.566.760 |
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| Identificador Único RDF: | https://id.nlm.nih.gov/mesh/D018629 | ||||||
| Nota de alcance: | Técnica espectrométrica de masa que se usa para el análisis químico microscópico. Un rayo de iones primarios con una energía de 5-20 kiloelectrovoltios (keV) bombardea un pequeño punto de la superficie de la muestra bajo condiciones de vacío ultra alto. Iones secundarios positivos y negativos lanzados desde la superficie se analizan en un espectrómetro de masa respecto a su relación masa/carga. Se puede generar una imagen digital de los rayos secundarios y puede medirse su intensidad. La imagen iónica puede relacionarse con las imágenes de la luz u otras imagenes microscópicas, proporcionando instrumentos útiles para estudios moleculares y de acción farmacológica. |
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| Nota de indización: | para microscopia por EMIS, coordine con tipo de microscopia |
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| Calificadores permitidos: |
CL clasificación EC economía ES ética HI historia IS instrumentación MT métodos SN estadística & datos numéricos ST normas TD tendencias VE veterinaria |
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| Identificador de DeCS: | 32021 | ||||||
| ID del Descriptor: | D018629 | ||||||
| Documentos indizados en la Biblioteca Virtual de Salud (BVS): | Haga clic aquí para acceder a los documentos de la BVS | ||||||
| Fecha de establecimiento: | 01/01/1995 | ||||||
| Fecha de entrada: | 12/05/1994 | ||||||
| Fecha de revisión: | 05/07/2006 |
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TÉCNICAS Y EQUIPOS ANALÍTICOS, DIAGNÓSTICOS Y TERAPÉUTICOS
Técnicas de Investigación [E05]Técnicas de Investigación
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Espectrometría de Masa de Ion Secundario
- Concepto preferido
| UI del concepto |
M0027922 |
| Nota de alcance | Técnica espectrométrica de masa que se usa para el análisis químico microscópico. Un rayo de iones primarios con una energía de 5-20 kiloelectrovoltios (keV) bombardea un pequeño punto de la superficie de la muestra bajo condiciones de vacío ultra alto. Iones secundarios positivos y negativos lanzados desde la superficie se analizan en un espectrómetro de masa respecto a su relación masa/carga. Se puede generar una imagen digital de los rayos secundarios y puede medirse su intensidad. La imagen iónica puede relacionarse con las imágenes de la luz u otras imagenes microscópicas, proporcionando instrumentos útiles para estudios moleculares y de acción farmacológica. |
| Término preferido | Espectrometría de Masa de Ion Secundario |
| Término(s) alternativo(s) |
Espectroscopía de Masa de Ion Secundario Microscopía por EMIS Microscopía por Espectrometría de Masa de Ion Secundario |
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