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Descriptor en español: Microscopía Electrónica de Volumen
Descriptor microscopía electrónica volumétrica
Término(s) alternativo(s) FIB-SEM
ME volumétrica
MEB con haz de iones focalizado
MEB de cara de bloque en serie
MEB de cara de bloque seriada
MEB-CBS
MEB-HIF
MET con seccionamiento seriado
METss
SBF-SEM
SEM con haz de iones focalizado
SEM de cara de bloque en serie
SEM de cara de bloque seriada
TEM con seccionamiento seriado
microscopia electrónica de barrido con haz de iones focalizado
microscopia electrónica de barrido de cara de bloque seriada
microscopia electrónica de transmisión con seccionamiento seriado
microscopia electrónica de volumen
microscopia electrónica volumétrica
microscopia electrónica volumétrica (MEv)
microscopía electrónica de barrido con haz de iones focalizado
microscopía electrónica de barrido de cara de bloque en serie
microscopía electrónica de barrido de cara de bloque seriada
microscopía electrónica de transmisión con seccionamiento seriado
microscopía electrónica de volumen
microscopía electrónica volumétrica (MEv)
ssTEM
Nota de alcance: Técnicas de microscopía electrónica diseñadas para reconstruir imágenes tridimensionales a escalas de volumen de micrómetros al nivel de resolución de nanómetros (nm). La microscopía electrónica volumétrica utiliza varias técnicas para representar, segmentar y reconstruir imágenes tridimensionales a partir de imágenes bidimensionales secuenciales apiladas de planos z incrementales.
Descriptor en inglés: Volume Electron Microscopy
Descriptor en portugués: Microscopia Eletrônica de Volume
Descriptor en francés: Sin traducción
Término(s) alternativo(s): FIB-SEM
HIF-MSE
METss
Microscopía Electrónica de Barrido de Haz de Iones Focalizados
Microscopía Electrónica de Barrido en Serie de Cara de Bloque
Microscopía Electrónica de Transmisión de Seccionamiento en Serie
SEM de Haz de Iones Focalizados
Seccionamiento en Serie MET
Código(s) jeráquico(s): E01.370.350.515.402.812
E05.595.402.812
L01.224.308.705
Identificador Único RDF: https://id.nlm.nih.gov/mesh/D000094443
Nota de alcance: Técnicas de microscopía electrónica diseñadas para reconstruir imágenes en 3D a escalas de volumen micrométricas a resoluciones de nivel nanométrico (nm). La microscopía electrónica de volumen utiliza diversas técnicas para representar, segmentar y reconstruir imágenes en 3D a partir de imágenes en 2D secuenciales apiladas de planos z incrementales.
Calificadores permitidos: CL clasificación
EC economía
ES ética
HI historia
IS instrumentación
MT métodos
SN estadística & datos numéricos
ST normas
TD tendencias
VE veterinaria
Identificador de DeCS: 60244
ID del Descriptor: D000094443
Documentos indizados en la Biblioteca Virtual de Salud (BVS): Haga clic aquí para acceder a los documentos de la BVS
Fecha de establecimiento: 01/01/2023
Fecha de entrada: 12/07/2022
Fecha de revisión: 12/07/2022
Microscopía Electrónica de Volumen - Concepto preferido
UI del concepto M000755966
Nota de alcance Técnicas de microscopía electrónica diseñadas para reconstruir imágenes en 3D a escalas de volumen micrométricas a resoluciones de nivel nanométrico (nm). La microscopía electrónica de volumen utiliza diversas técnicas para representar, segmentar y reconstruir imágenes en 3D a partir de imágenes en 2D secuenciales apiladas de planos z incrementales.
Término preferido Microscopía Electrónica de Volumen
Microscopía Electrónica de Barrido de Haz de Iones Focalizados - Más estrecho
UI del concepto M000755969
Término preferido Microscopía Electrónica de Barrido de Haz de Iones Focalizados
Término(s) alternativo(s) FIB-SEM
SEM de Haz de Iones Focalizados
Microscopía Electrónica de Transmisión de Seccionamiento en Serie - Más estrecho
UI del concepto M000755967
Término preferido Microscopía Electrónica de Transmisión de Seccionamiento en Serie
Término(s) alternativo(s) METss
Seccionamiento en Serie MET
Microscopía Electrónica de Barrido en Serie de Cara de Bloque - Más estrecho
UI del concepto M000755968
Término preferido Microscopía Electrónica de Barrido en Serie de Cara de Bloque
Término(s) alternativo(s) HIF-MSE



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