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Descripteur en français: Spectrométrie de masse d'ions secondaires
Descripteur en anglais: Spectrometry, Mass, Secondary Ion
Descripteur en espagnol: Espectrometría de Masa de Ion Secundario
Descripteur espectrometría de masas por iones secundarios
Synonymes espectroscopía de masas de ión secundario
microscopía por EMIS
microscopía por espectrometría de masa de ión secundario
Note d'application: Técnica de espectrometría de masas que se usa para el análisis químico microscópico. Un rayo de iones primarios con una energía de 5-20 kiloelectronvoltios (keV) bombardea un pequeño punto de la superficie de la muestra bajo condiciones de vacío ultra alto. Iones secundarios positivos y negativos lanzados desde la superficie se analizan en un espectrómetro de masas respecto a su relación masa/carga. Se puede generar una imagen digital de los rayos secundarios y puede medirse su intensidad. La imagen iónica puede relacionarse con las imágenes de la luz u otras imágenes microscópicas, proporcionando instrumentos útiles para estudios moleculares y de acción farmacológica.
Descripteur en portugais: Espectrometria de Massa de Íon Secundário
Synonymes: Microscopie SIMS
Microscopie par spectrométrie de masse d'ions secondaires
Microscopie par spectroscopie de masse d'ions secondaires
Spectrométrie de masse SIMS
Spectrométrie de masse SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)
Spectrométrie de masse des ions secondaires
Spectrométrie de masse à ionisation secondaire
Spectrométrie de masse à ions secondaires
Spectroscopie de masse d'ions secondaires
Spectroscopie de masse des ions secondaires
Spectroscopie de masse à ionisation secondaire
Spectroscopie de masse à ions secondaires
Code(s) d'arborescence: E05.196.566.760
Identificateur unique RDF: https://id.nlm.nih.gov/mesh/D018629
Note d'application: A mass-spectrometric technique that is used for microscopic chemical analysis. A beam of primary ions with an energy of 5-20 kiloelectronvolts (keV) bombards a small spot on the surface of the sample under ultra-high vacuum conditions. Positive and negative secondary ions sputtered from the surface are analyzed in a mass spectrometer in regards to their mass-to-charge ratio. Digital imaging can be generated from the secondary ion beams and their intensity can be measured. Ionic images can be correlated with images from light or other microscopy providing useful tools in the study of molecular and drug actions.
Note d'indexation: for SIMS microscopy, coordinate with type of microscopy
Qualificatifs autorisés: CL classification
EC économie
ES éthique
HI histoire
IS instrumentation
MT méthodes
SN statistiques et données numériques
ST normes
TD tendances
VE médecine vétérinaire
Identifiant DeCS: 32021
ID du Descripteur: D018629
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Date d'établissement: 01/01/1995
Date d'entrée: 12/05/1994
Date de révision: 05/07/2006
Spectrométrie de masse d'ions secondaires - Concept préféré
Concept UI M0027922
Terme préféré Spectrométrie de masse d'ions secondaires
Synonymes Microscopie SIMS
Microscopie par spectrométrie de masse d'ions secondaires
Microscopie par spectroscopie de masse d'ions secondaires
Spectrométrie de masse SIMS
Spectrométrie de masse SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)
Spectrométrie de masse des ions secondaires
Spectrométrie de masse à ionisation secondaire
Spectrométrie de masse à ions secondaires
Spectroscopie de masse d'ions secondaires
Spectroscopie de masse des ions secondaires
Spectroscopie de masse à ionisation secondaire
Spectroscopie de masse à ions secondaires



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