Pesquisa
Descritor em português: Síndrome da Criança Espancada
Descritor em inglês: Battered Child Syndrome
Descritor em espanhol: Síndrome del Niño Maltratado
Descritor síndrome del niño maltratado
Nota de escopo: Afección clínica consecuencia de lesiones físicas o psicológicas repetidas que los padres o cuidadores causan a un niño.
Descritor em francês: Syndrome de l'enfant battu
Termo(s) alternativo(s): Síndrome del Bebé Maltratado
Código(s) hierárquico(s): F03.950.750.124
Identificador Único RDF: https://id.nlm.nih.gov/mesh/D001497
Nota de escopo: Una condición clínica que resulta de las lesiones físicas y psicológicas reiteradas infligidas en un niño por los padres o cuidadores.
Qualificadores permitidos: BL sangre
CF líquido cefalorraquídeo
CI inducido químicamente
CL clasificación
CN congénito
CO complicaciones
DG diagnóstico por imagen
DH dietoterapia
DI diagnóstico
DT tratamiento farmacológico
EC economía
EH etnología
EM embriología
EN enzimología
EP epidemiología
ET etiología
GE genética
HI historia
IM inmunología
ME metabolismo
MI microbiología
MO mortalidad
NU enfermería
PA patología
PC prevención & control
PP fisiopatología
PS parasitología
PX psicología
RH rehabilitación
RT radioterapia
SU cirugía
TH terapia
UR orina
VE veterinaria
VI virología
Veja também os descritores: Adultos Sobrevivientes del Maltrato a los Niños MeSH
Maltrato a los Niños MeSH
Identificador DeCS: 1517
ID do descritor: D001497
Classificação da NLM: WA 325
Documentos indexados na Biblioteca Virtual em Saúde (BVS): Clique aqui para acessar os documentos da BVS
Data de estabelecimento: 01/01/1991
Data de entrada: 01/01/1999
Data de revisão: 30/06/2015
Síndrome del Niño Maltratado - Conceito preferido
Identificador do conceito M0002231
Nota de escopo Una condición clínica que resulta de las lesiones físicas y psicológicas reiteradas infligidas en un niño por los padres o cuidadores.
Termo preferido Síndrome del Niño Maltratado
Termo(s) alternativo(s) Síndrome del Bebé Maltratado



Queremos a sua opinião sobre o novo sitio web do DeCS/MeSH

Convidamos-lhe a responder a uma pesquisa que não levará mais que 3 minutos

Ir para pesquisa