Pesquisa
Descritor em português: Espectrometria de Massa de Íon Secundário
Descritor em inglês: Spectrometry, Mass, Secondary Ion
Descritor em espanhol: Espectrometría de Masa de Ion Secundario
Descritor espectrometría de masas por iones secundarios
Termo(s) alternativo(s) espectroscopía de masas de ión secundario
microscopía por EMIS
microscopía por espectrometría de masa de ión secundario
Nota de escopo: Técnica de espectrometría de masas que se usa para el análisis químico microscópico. Un rayo de iones primarios con una energía de 5-20 kiloelectronvoltios (keV) bombardea un pequeño punto de la superficie de la muestra bajo condiciones de vacío ultra alto. Iones secundarios positivos y negativos lanzados desde la superficie se analizan en un espectrómetro de masas respecto a su relación masa/carga. Se puede generar una imagen digital de los rayos secundarios y puede medirse su intensidad. La imagen iónica puede relacionarse con las imágenes de la luz u otras imágenes microscópicas, proporcionando instrumentos útiles para estudios moleculares y de acción farmacológica.
Descritor em francês: Spectrométrie de masse d'ions secondaires
Termo(s) alternativo(s): Espectroscopia de Massa de Íon Secundário
Microscopia com Espectrometria de Massa de Íon Secundário
Microscopia de SIMS
Código(s) hierárquico(s): E05.196.566.760
Identificador Único RDF: https://id.nlm.nih.gov/mesh/D018629
Nota de escopo: Técnica de espectrometria de massa que é usada para análise química microscópica. Um feixe de íons primários com uma energia de 5-20 quiloeletrovolts (keV) bombardeia um pequeno ponto na superfície da amostra em condições ultra-altas de vácuo. Os íons secundários positivos e negativos expelidos da superfície são analisados em um espectrômetro de massa em relação a sua proporção de massa e carga. O imageamento digital pode ser gerado a partir dos feixes de íons secundários e sua intensidade pode ser medida. As imagens iônicas podem ser correlacionadas com as imagens de microscopia óptica ou outra, fornecendo ferramentas úteis para estudos moleculares e de ações de drogas.
Nota de indexação: para microscopia de SIMS, coordene com tipo de microscopia
Qualificadores permitidos: CL classificação
EC economia
ES ética
HI história
IS instrumentação
MT métodos
SN estatística & dados numéricos
ST normas
TD tendências
VE veterinária
Identificador DeCS: 32021
ID do descritor: D018629
Documentos indexados na Biblioteca Virtual em Saúde (BVS): Clique aqui para acessar os documentos da BVS
Data de estabelecimento: 01/01/1995
Data de entrada: 12/05/1994
Data de revisão: 05/07/2006
Espectrometria de Massa de Íon Secundário - Conceito preferido
Identificador do conceito M0027922
Nota de escopo Técnica de espectrometria de massa que é usada para análise química microscópica. Um feixe de íons primários com uma energia de 5-20 quiloeletrovolts (keV) bombardeia um pequeno ponto na superfície da amostra em condições ultra-altas de vácuo. Os íons secundários positivos e negativos expelidos da superfície são analisados em um espectrômetro de massa em relação a sua proporção de massa e carga. O imageamento digital pode ser gerado a partir dos feixes de íons secundários e sua intensidade pode ser medida. As imagens iônicas podem ser correlacionadas com as imagens de microscopia óptica ou outra, fornecendo ferramentas úteis para estudos moleculares e de ações de drogas.
Termo preferido Espectrometria de Massa de Íon Secundário
Termo(s) alternativo(s) Espectroscopia de Massa de Íon Secundário
Microscopia com Espectrometria de Massa de Íon Secundário
Microscopia de SIMS



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