Pesquisa
Descritor em português: Microscopia de Força Atômica
Descritor em inglês: Microscopy, Atomic Force
Descritor em espanhol: Microscopía de Fuerza Atómica
Descritor microscopía de fuerza atómica
Termo(s) alternativo(s) microscopía de fuerza
microscopía de fuerza de barrido
Nota de escopo: Tipo de microscopía de sonda de barrido en la que la sonda se desplaza sistemáticamente sobre la superficie de la muestra barrida con un patrón matricial. La posición vertical se registra a medida que un muelle unido a la sonda, sube y baja en respuesta a los picos y valles de la superficie. Estas deflexiones producen un mapa topográfico de la muestra.
Descritor em francês: Microscopie à force atomique
Termo(s) alternativo(s): Microscopia de Varredura de Força Atômica
Código(s) hierárquico(s): E01.370.350.515.666.400
E05.595.666.400
Identificador Único RDF: https://id.nlm.nih.gov/mesh/D018625
Nota de escopo: Tipo de microscopia de varredura por sonda, na qual uma sonda montada sistematicamente na superfície da amostra que está sendo varrida em um padrão rastreado. A posição vertical é registrada como uma mola fixada a uma sonda que sobe e cai em resposta aos picos e vales da superfície. Estas deflexões produzem um mapa topográfico da amostra.
Qualificadores permitidos: CL classificação
EC economia
ES ética
HI história
IS instrumentação
MT métodos
SN estatística & dados numéricos
ST normas
TD tendências
VE veterinária
Veja também os descritores: Microscopia de Tunelamento MeSH
Identificador DeCS: 32147
ID do descritor: D018625
Classificação da NLM: QH 212.A78
Documentos indexados na Biblioteca Virtual em Saúde (BVS): Clique aqui para acessar os documentos da BVS
Data de estabelecimento: 01/01/1995
Data de entrada: 16/04/1994
Data de revisão: 07/07/2004
Microscopia de Força Atômica - Conceito preferido
Identificador do conceito M0027912
Nota de escopo Tipo de microscopia de varredura por sonda, na qual uma sonda montada sistematicamente na superfície da amostra que está sendo varrida em um padrão rastreado. A posição vertical é registrada como uma mola fixada a uma sonda que sobe e cai em resposta aos picos e vales da superfície. Estas deflexões produzem um mapa topográfico da amostra.
Termo preferido Microscopia de Força Atômica
Termo(s) alternativo(s) Microscopia de Varredura de Força Atômica



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