Pesquisa
Descritor em português: Microscopia de Varredura por Sonda
Descritor em inglês: Microscopy, Scanning Probe
Descritor em espanhol: Microscopía de Sonda de Barrido
Descritor microscopía de sonda de barrido
Termo(s) alternativo(s) microscopía por sonda de rastreo
Nota de escopo: Microscopía de barrido en la que se emplea una sonda muy puntiaguda en estrecha proximidad con la superficie explotando una propiedad particular de relación con la superficie. Cuando esta propiedad es la topografía local, el método es la MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA, y cuando es la conductividad local se trata de la MICROSCOPÍA DE BARRIDO DE EFECTO TÚNEL.
Descritor em francês: Microscopie à sonde à balayage
Termo(s) alternativo(s): Microscopia de Varredura por Microsonda
Código(s) hierárquico(s): E01.370.350.515.666
E05.595.666
Identificador Único RDF: https://id.nlm.nih.gov/mesh/D020527
Nota de escopo: Microscopia de varredura na qual uma sonda muito afiada é aplicada nas proximidades fechadas a uma superfície, explorando uma propriedade particular relacionada com a superfície. Quando esta propriedade é a topografia local, o método é MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA e quando é a condutividade local, o método é MICROSCOPIA DE TUNELAMENTO.
Qualificadores permitidos: CL classificação
EC economia
ES ética
HI história
IS instrumentação
MT métodos
SN estatística & dados numéricos
ST normas
TD tendências
VE veterinária
Identificador DeCS: 34522
ID do descritor: D020527
Classificação da NLM: QH 212.S33
Documentos indexados na Biblioteca Virtual em Saúde (BVS): Clique aqui para acessar os documentos da BVS
Data de estabelecimento: 01/01/2000
Data de entrada: 03/11/1999
Data de revisão: 07/07/2004
Microscopia de Varredura por Sonda - Conceito preferido
Identificador do conceito M0027913
Nota de escopo Microscopia de varredura na qual uma sonda muito afiada é aplicada nas proximidades fechadas a uma superfície, explorando uma propriedade particular relacionada com a superfície. Quando esta propriedade é a topografia local, o método é MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA e quando é a condutividade local, o método é MICROSCOPIA DE TUNELAMENTO.
Termo preferido Microscopia de Varredura por Sonda
Termo(s) alternativo(s) Microscopia de Varredura por Microsonda



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